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上海楹點檢測設備有限公司
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產品特點
較小電感值≥0.1μH
電壓補償功能
高速脈沖取樣率200MHz/9bits
崩潰電壓測試
穩定較速測試：10次/秒
可程式非破壞性脈沖電壓測試
儀器內建可儲存128組測試波形
USB Host快速存取測試畫面
五種波形比對，檢測繞線元件層間短路不良
全新一代彩色顯示屏幕速度較快的MICROTEST 7750線圈層間短路測試儀，提供1200V/5200V/10000V脈沖電壓輸出，200MHz/9bits高速取樣技術提供多種比對模式，包含總面積比對、面積差比對、電暈數比對、顫抖數比對、二階微分比對與波形比對模式，測試速度高達10次/秒，上自動線是較佳的選擇。針對小感量可選型7750-1層間短路測試儀搭載FX-IM0001四線式SMD元件測試治具，支援電壓補償功能，避免配線引起的等效電感引起測試電壓誤差過大，為小電感產品把關品質。
選型
| Model | 7750-5E | 7750-5H | 7750-5S | 7750-1S | 7750-10S |
| 波形采樣率 | 50MHz | 100MHz | 200MHz | ||
| 脈沖電壓輸出 | 100V-5200V | 100V-5200V | 100V-5200V | 10V-1200V | 200V-10000V |
| 量測較小電感量 | ≥ 1μH | ≥ 0.1μH | ≥ 20μH | ||
| 量測時間 | 10次/秒 | ||||
| 崩潰電壓-BDV | - | - | ● | ● | ● |
| 支援LAN介面 | - | - | ● | ● | ● |
| 波形分析 | |||||
| 總面積比對 | ● | ● | ● | ● | ● |
| 面積差比對 | ● | ● | ● | ● | ● |
| 二階微分比對 | - | ● | ● | ● | ● |
| 電暈數比對 | ● | ● | ● | ● | ● |
| 顫抖數比對 | ● | ● | ● | ● | ● |
| 波形比對 | ● | ● | ● | ● | ● |
量測規格
| 型號 | 7750 | |
| 量測速度 | 10次/秒 | |
| 施加脈沖數 | 較大32 | |
| 波形采樣 | 200MHz/9 bit | |
| 輸入阻抗 | 20MΩ | |
| 崩潰電壓測試 | ● | |
| 統計功能 | 支援量測統計功能 | |
| 波形比對模式 | ||
| 總面積比對 AREA | 將諧振波所涵蓋之所有面積加總稱之為「總面積」 進行待測線圈波形面積比對，當待測物發生層間短路時，由於線圈能量損耗增加，諧振阻尼系數變大，諧振振幅會變小，總面積跟著變小，是檢查層間短路較基本的參數。 以%表示，判定能量損耗差異性。 | |
| 面積差比對 DIFF | 將標準波與待測波之相異處加總則稱為「面積差」 當待測物發生匝間短路時，電感變?。愃谱儔浩鞔屋^圈短路時，初較圈電感會變小），造成後段波形振蕩頻率發生變化，諧振波形相位改變，面積差隨之改變。 藉此比較電感量的差異性。 | |
| 二階微分 LACIAN | 線圈絕緣品質不良在高壓沖擊下產生放電，引起振蕩波形快速變化，透過7750 二階微分演算方式進行比對。 用於檢測焊接不良導致絕緣性能降低的品質問題。 | |
| 電暈數比對 CORANA | 繞組線圈於高壓脈沖測試中，自身絕緣系統損壞而產生**放電，透過波形顯示放電曲線中出現電暈的現象，此功能可統計電暈發生的次數根據其偏差程度進行判定。 檢測線圈內部絕緣品質是否有放電現象。 | |
| 波形比對 COMP | 將標準波設定一可容許之波形范圍，此項目可同時判斷諧 | |
| 顫抖數比對 FLUT | 當繞組線圈有發生匝間放電的現象時，波形將產生顫抖， 因此儀器將波形顫抖程度量化成數值進行比對。 | |
一般規格
| Remote輸入信號 | START/STOP |
| Remote輸出信號 | PASS/FAIL/TEST/READ/HV ON |
| 安全開關 | 設置INTER LOCK功能，測試時需將安全開關進行短路，機臺方能輸出脈沖電壓 |
| 內建存儲 | 128組 |
| 電源 | 電壓：100Vac-240Vac |
| 頻率：47-63Hz | |
| 消耗功率 | 45VA |
| 操作環境 | 溫度：0℃-40℃ |
| 濕度：20-80%RH | |
| 外觀尺寸 | 430x132x370 mm (W*H*D) |
| 重量 | 7Kg |
| 介面 | USB Host/Device、RS-232、Remote、LAN GPIB選配 |
| 液晶螢幕 | 7寸TFT 彩色顯示(800*480) |